透射电子显微镜（TEM）

简要描述：透射电子显微镜是通过在高真空环境中用电子束照射样品来生成图像，检测透过样品的电子，就可以形成图像。通过TEM成像，在更微观的层面，我们可以看到晶体样品中的原子柱和理解细胞内的分子机制。由于TEM使用聚焦的高能电子束，因此它能显示光镜无法显示的样品复杂细节。此外，TEM还能提供除最轻元素（H和He）外，样品的结晶

行业应用：材料图层、截面形貌观察，元素组成分析。

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透射电子显微镜是通过在高真空环境中用电子束照射样品来生成图像，检测透过样品的电子，就可以形成图像。通过TEM成像，在更微观的层面，我们可以看到晶体样品中的原子柱和理解细胞内的分子机制。由于TEM使用聚焦的高能电子束，因此它能显示光镜无法显示的样品复杂细节。此外，TEM还能提供除最轻元素（H和He）外，样品的结晶相的取向和元素组成信息。

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