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X射线荧光光谱仪(XRF)

简要描述:X射线荧光光谱仪主要由激发源(X射线管)和探测系统构成。其原理是:X射线管通过产生入射X射线(一次X射线),来激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线(又叫X荧光),并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量或者波长。然后

行业应用:元素定性、半定量分析,离型硅含量测定,有害物质筛查。

详细介绍

X射线荧光光谱仪主要由激发源(X射线管)和探测系统构成。其原理是:X射线管通过产生入射X射线(一次X射线),来激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线(又叫X荧光),并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量或者波长。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,因此可以进行元素定量分析。由于X荧光具有一定波长,同时又有一定能量,因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)。




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